对IC集成电路进行电磁兼容测试的方法-上海凌茂电子科技有限公司

企业新闻

行业新闻

新闻中心

对IC集成电路进行电磁兼容测试的方法

集成电路的相关技术已经成为世界上最具有发展前景的高科技技术之一，关于集成电路的IC研发领域，目前已经受到国家的高度重视，因为在如今全球高科技发展创新的环境下，一个国家的集成电路发展水平是整体科技水平最好的量尺。

近年来，国内越来越多的科研机构、高校院所、IC企业研发部门等逐步关注和从事集成电路的电磁兼容性（IC EMC）研究。关于对IC集成电路进行电磁兼容测试的方法，还要从电磁兼容自身的特性入手。电磁兼容性分为电磁干扰（EMI）和电磁敏感度（EMS）。简单的说，EMI指的是待测设备影响其它设备正常工作产生的电磁辐射，EMS指的是设备抵御外界电磁辐射干扰的能力。关于电磁敏感度测试可以分为多个项目，下面就给大家介绍关于电磁兼容测试中的其中两种测试方法。

传导抗扰度测试：传导抗扰度测试主要分为直接功率注入法、大电流注入法。这里介绍直接功率注入法。直接功率注入法，通过干扰源产生干扰脉冲，经过功放、定向耦合器、注入网络，进而注入测试设备。通过失效判据来判断设备的功能状态，确定注入电压的大小，测试过程中，需要注意尽量按照测试标准进行测试，另外，相关测试板的设计要充分考虑接地设置。

静电放电抗扰度测试：静电放电测试是设备抗扰度测试的重要项目，目前国际上有关于静电放电测试的通用标准IEC 61000，规定了静电放电脉冲的幅值和上升时间。静电放电测试方法简单，只需把测试探头压上测试引脚注入脉冲波形即可，在测试过程中，测试人员要全程穿戴接地手环，防止人体自身静电造成干扰。

分享到：QQ空间新浪微博腾讯微博人人网微信

上海凌茂电子科技有限公司

微信关注"凌茂电子"