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凌茂电子提供的TEKSCAN 压力分布测试系统

 

在薄膜上分布2000多个压力测点,从而测量出受力面的整个面的压力分布情况TEKSCAN 压力分布测试系统的主要原理上海凌茂现有代理TEKSCAN 压力分布测试系统可提供整套进口模态分析系统。

 

TEKSCAN 压力分布测试系统其主要特点: 0.1mm 超薄感应片测力范围:5mmHg-170MPa 超过200种现有规格可选多种规格尺寸:12mm*12mm -9.2㎡ 最高密度:248测点/c㎡(修改后)最高采样频率:10kHz可以根据材质定制各种形状

 

TEKSCAN 压力分布测试系统I-Scan是一种易于使用的功率/压力分布测量系统,可显示、记录并直接从您的计算机存储静态和动态压力信息。整个系统包括操作软件、数据分离器和传感器。还有200多种不同形状的、尺寸传感器芯片可供选择。还有其他系统和定制服务可以满足您的特定应用程序。

 

I-Scan的专利技术在、测量和质量控制应用程序的全球发展中起着关键作用。轻薄的、柔性传感器条可减少测量干扰,并为几乎所有应用提供最真实的测量结果。这些功能与我们的高分辨率(约1,600传感器/in2或248传感器/cm2)相结合,使TEKSCAN 压力分布测试系统成为解决各种压力测量问题的行业领导者。 I-Scan系统提供最先进的、,但易于操作的压力感应技术。不仅可以实时显示接触压力测量数据,而且可以使用各种图表和输出ASCII文件进行数据分析。

 

TEKSCAN 压力分布测试系统适用于汽车业,半导体业,制药厂,体育用品业,人体工程,封装,造纸,印刷,管制机关,大学研究单位,还有更多制造厂,测试设备实验室

 

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