| IC高低温测试 | |
高低温测试分为高温测试和低温测试两种，是用来评估判断产品在高低温环境下的状态，检验产品能否符合相关法规的一项重要测试方法。
现在高低温测试已经是实验室比较热衷的一种实验测试方法，主要是归结于高低温测试的专业、精准、快速的特点。电工、电子产品、原器件原材料都是高低温测试的测试范围，严格把控对温度和测试时间持续的长短，使得对这些进行测试时得到的结果更加精准。
高低温测试可对产品进行过度加热或者过低的温度，以来检测产品在温度的情况下是否会发生变化，从而影响产品使用的安全性，会出现以下几种损坏的情况：
1、材料的膨胀系数不同，导致材料之间粘连或者移动； 2、材料性能发生变化； 3、元器件电性能下降； 4、弹性元件的弹性或者机械性能强度降低，产品的使用寿命降低； 5、加速高分子材料与绝缘材料的老化，缩短产品使用寿命； 6、金属与塑料的脆性增大，导致破裂或者产生裂纹；
这些都是产品在进行高低温测试时会发生的情况，进行测试的目的就是为了更早更精准的找到这些问题会发生可能性和造成的危害，及时发现及时解决，以免在产品使用过程中发生更大的错误，避免造成损失。
上海凌茂作为进口设备的一级代理商，现有提供芯片级高低温测试机，可针对PCB电路板上某一单个IC(模块),单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件。IC高低温测试也是芯片高低温测试，与上述的高低温测试性能基本一致，都是为了检测产品在温度中存在的问题。应用在化学品检测,能源,电子/电气/通讯/半导体,铁路/船舶/交通,纺织/印染/服装/皮革领域。
IC的高低温测试要求，除产品的特殊要求外，一般范围从低温40°到高温150°。通常，IC的高温和低温测试还需要高压加速老化测试室。被测产品处于高温、高温高湿高压环境中。储存、在高温，高湿和高压气候条件下，在运输和使用过程中的性能测试，产品的物理和其他相关特性。测试后，可以通过高压加速老化寿命测试仪来判断产品的性能。满足产品设计、的要求，以改进、验证和工厂检查。
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