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芯片级TLP测试系统中曲线测试分析系统

美国ESD测试系统质量有保障,在国内外测试系统中都口碑良好,其中ES620 便携式TLP IV-曲线测试分析系统作为新一代的研发产品,具备进的便携式脉冲IV-曲线特性表征系统,用于模拟静电放电脉冲事件。

 

体系的传输线脉冲(TLP)测验和剖析功用契合 ANSI/ESD STM5.5.1-2014 测验规范。ES620体系能够向器材注入高质量矩形波脉冲,同时记载流经器材的电流和器材两端电压。测验结果能够提供脉冲式IV曲线,使用户能够表征器材在纳秒级的瞬态响应。体系还具有先进的器材失效自动化检测办法,例如漏电流测验,静态IV曲线,熔断和火花放电。

 

超快TLP (vf-TLP) 测验和剖析功用契合ANSI/ESD SP5.5.2-2007测验规范。vf-TLP 测验用于模拟CDM速度的静电放电,捕捉高速(大约100 ps 上升沿)状态下器材的电流和电压。用户能够通过这种办法测验器材的响应速度和峰值电压。

 

人体金属模型(HMM) 测验和剖析功用契合 ANSI/ESD SP5. 6-2009 测验办法,该办法可替代IEC61000-4-2 中体系级ESD测验办法,用于测验 IC。当测验低阻抗器材或者晶圆时,体系的该测验功用能够提供契合IEC61000-4-2规范的理想波形,而且防止许多静电放电枪测验时或许呈现的问题,例如可重复性差,放电位置不精准,由未屏蔽继电器产生的EMI互扰,需求设置大接地平板和耦合板。

 

主要特点如下:

 

1、配置最灵活的TLP IV曲线脉冲测试分析系统

 

2、超便携设计

 

3、超快测试速度,程序并行处理

 

4、目前测试版本有 25 A, 50 A,和100 A 模块

 

5、高质量TLP脉冲

 

6、可扩展的测试模块包括 vf-TLP, HMM, HBM, 和低压浪涌

 

7、自动化故障检测方法包括:

DC 抽查 (电压或电流), 静态IV, 熔融, 击穿, 偏置源波动, 以及客户自定义

 

8、软件控制的脉冲注入: 单次, 连续, IV-曲线表征

 

9、上升沿选项:60 ps 至 50 ns *(取决于模块)

 

10、脉冲宽度选项: 1 ns 至 3200 ns  *(取决于模块)