ES620 便携式TLP IV-曲线测试分析系统

ES620便携式脉冲 IV-曲线测试分析系统是我们2015年研发的新一代产品。这是一款先进的便携式脉冲IV-曲线特性表征系统，用于模拟静电放电脉冲事件，例如 TLP, vf-TLP, HMM, HBM, EFT, 和低压浪涌。系统会检测脉冲期间皮秒或纳秒级的瞬态电压和电流波形，并测试脉冲前、后被测器件的状态（漏电流，击穿电压，偏置电流，静态IV曲线，等）。可测的DUT包括静电防护器件，半导体，电路模块，触摸板传感器等。

特点:

配置最灵活的TLP IV曲线脉冲测试分析系统
超便携设计
超快测试速度，程序并行处理
目前测试版本有 25 A, 50 A，和100 A 模块
高质量TLP脉冲
可扩展的测试模块包括 vf-TLP, HMM, HBM, 和低压浪涌
自动化故障检测方法包括：
DC 抽查 (电压或电流), 静态IV, 熔融, 击穿, 偏置源波动, 以及客户自定义
软件控制的脉冲注入: 单次, 连续, IV-曲线表征
上升沿选项：60 ps 至 50 ns *(取决于模块)
脉冲宽度选项： 1 ns 至 3200 ns *(取决于模块)

分类：脉冲IV曲线测试方案

标签： HBM, HMM, IV曲线, TLP测试, 低压浪涌, 特色产品, 超快TLP, 静电放电

描述

ES620 便携式TLP IV-曲线测试分析系统是2015年研发的新一代产品。这是一套先进的便携式脉冲IV曲线表征系统，用于模拟静电放电脉冲事件，例如 TLP, vf-TLP, HMM, HBM, EFT, and 低压浪涌。该系统可监测脉冲发生时，ps或ns量级的瞬态电压和电流波形，并测试DUT在测试前、后的状态（漏电流、击穿电压、静态IV曲线等）。可测试的DUT包括静电防护器件，半导体，电路模块，触摸板传感器等。

系统的传输线脉冲(TLP)测试和分析功能符合 ANSI/ESD STM5.5.1-2014 测试标准。ES620系统能够向器件注入高质量矩形波脉冲，同时记录流经器件的电流和器件两端电压。测试结果能够提供脉冲式IV曲线，使用户能够表征器件在纳秒级的瞬态响应。系统还具有先进的器件失效自动化检测方法，例如漏电流测试，静态IV曲线，熔断和火花放电。

超快TLP (vf-TLP) 测试和分析功能符合ANSI/ESD SP5.5.2-2007测试标准。vf-TLP 测试用于模拟CDM速度的静电放电，捕捉高速（大约100 ps 上升沿）状态下器件的电流和电压。用户可以通过这种方法测试器件的响应速度和峰值电压。

人体金属模型(HMM) 测试和分析功能符合 ANSI/ESD SP5. 6-2009 测试方法，该方法可替代IEC61000-4-2 中系统级ESD测试方法，用于测试 IC。当测试低阻抗器件或者晶圆时，系统的该测试功能可以提供符合IEC61000-4-2标准的理想波形，并且避免许多静电放电枪测试时可能出现的问题，例如可重复性差，放电位置不精准，由未屏蔽继电器产生的EMI互扰，需要设置大接地平板和耦合板。

系统有完整的软件控制，可定制上升沿时间和脉冲宽度，与IVI仪器有良好的兼容性，体积小，价格优惠。

应用:

晶圆级ESD测试
PCB/封装级ESD测试
系统/电路 ESD 测试
安全工作区 (SOA) 测试
充电恢复时间测试
差分ESD脉冲注入
触摸屏ITO微带线熔断测试
触摸屏ITO微带线火花放电测试
TLP注入电流脉冲符合并超过ANSI/ESD STM 5.5.1-2008标准
vf-TLP注入电流脉冲符合并超过ANSI/ESD SP5.5.2-2007标准
对于低阻抗器件，HMM的注入电流脉冲与 IEC61000-4-2 波形相符

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ES620 便携式TLP IV-曲线测试分析系统