集成电路高低温测试-上海凌茂电子科技有限公司

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集成电路高低温测试

集成电路IC卡是需要经过高低温测试才能出厂使用的，因为在集成电路行业中，测试IC卡在高低温环境下的性能是非常重要的。

上海凌茂电子科技有限公司作为进口设备的一级代理商，先代理集成电路高低温测试，专业针对于PCB电路上的单一IC模块问题，在不影响其它设备器件的前提下，单独进行高低温冲击测试。

对集成电路IC卡进行高低温测试，可以模拟集成电路在不同的温度环境下工作性能的变化，针对这些问题对IC卡做出相应的解决方案。集成电路IC高温和低温测试可协助制造商使用用于封装级和晶圆级集成电路的高温和低温测试仪来执行诸如高温和低温循环测试、热冲击测试、老化测试之类的测试。集成电路的高低温测试可以每秒快速增加/减速。、测试温度精度高达±1°C，特别适用于大规模集成电路的高温和低温电气性能检测。

集成电路的高低温测试是利用空压机将干燥干净的空气送入冰箱进行低温处理，然后空气通过外部管道到达加热头加热。将被测电路的IC卡置于热风罩位置，根据操作员的设置进行设定，喷出和设定温度差为±1°C的气流，以进行温度的高低测试董事会。集成电路高温和低温测试带有过热温度保护系统。出厂设置温度为+125°C。操作员可以根据实际需要设置温度上限和下限。

集成电路高低温测试时当温度达到设定温度时，测试机将自动停止。将IC卡和要测试的温度传感器放置在集成电路的高温和低温测试室内，操作员设置要测试的温度范围，开始集成电路的高温和低温测试，并使用空气压缩机将干燥和清洁的空气传递到冰箱以降低温度。处理后，空气随后通过外部管线被送入加热头以进行温度升高。

有集成电路高低温测试方面的诗句问题可随时与我司联系，我司提供专业的集成电路高低温测试的技术知识与技术人员。

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